无损检测
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产品描述

背景介绍
无损探伤检测就是NDT Testing,缩写是NDT(或NDE,non-destructive examination),也叫无损探伤,是在不损害或不影响被检测对象使用性能的前提下,采用射线、超声、红外、电磁等原理技术并结合仪器对材料、零件、设备进行缺陷、化学、物理参数检测的技术。
检测项目
射线检测
利用射线穿透物质时的衰减特性来探测被检物中的不连续性(缺陷)并记录与实现其图像的方法。射线检测按照射线(或辐射)源不同可分为X射线检测、γ射线检测、中子射线检测、质子射线检测和电子辐射检测等方法。
超声波检测
利用人感觉不到的高频声波(>20000Hz)在被检物中的传播、反射、衰减等特性判断测定被检物缺陷的方法。
磁粉检测
被检物在磁场中被磁化后,缺陷部位产生漏磁磁场,在被检物表面撒上磁粉,缺陷处有磁粉附着从而显示出缺陷。磁粉检测只适用于铁磁性材料。铁磁性材料上非磁性涂层厚度小于50um时,对磁粉检测灵敏度影响很小。缺陷长度方向与磁场方向相垂直是磁粉检测的重要条件。
渗透检测
施加于被检物的渗透剂靠毛细作用渗入被检物表面缺陷内,清洗被检物后,用显像剂将残留在缺陷中的渗透剂吸出,从而以荧光或着色图像显示缺陷的形状和位置。渗透液对缺陷的渗透能力与渗透液表面张力、渗透液对固体的润湿作用、缺陷形状和大小以及渗透液粘度等有关。 
检测设备
射线探伤机,超声波探伤仪,磁粉探伤机等。 

检测项目及标准
射线检测 GB/T 3323,JB/T 4730.2,JB/T 6440,EN 1435,ASTM E 446,ASTM E186,ISO 5817
超声波检测 GB/T2970,GB/T6402,GB/T7233,GB/T11345,EN 12680-1,ASTM A388/A388M,JB/T 4730.3
磁粉检测 GB/T15822,JB/T6061,BS EN1290,JB/T 4730.4
渗透检测 JB/T 9218,JB/T6062,EN 571-1,JB/T 4730.5

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